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    你知道覆層厚度測量儀有哪些技術優勢嗎

    發表時間:2022-04-25  |  點擊率:31
     
      覆層厚度測量儀是采用電渦流原理的測厚儀,原則上對所有導電體上的非導電體覆層均可測量,如航天航空器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆,塑料涂層及陽極氧化膜。覆層材料有一定的導電性,通過校準同樣也可測量,但要求兩者的導電率之比至少相差3-5倍(如銅上鍍鉻)。
     
      覆層厚度測量儀是最新研發的新產品,與之前涂層測厚儀相比有以下主要優點:
     
      1.測量速度快:測量速度比其它TT系列快6倍;
     
      2.精度高:產品簡單校0后精度即可達到1-2%是目前市場上能達到A級的產品,其精度遠高于時代等國內同類.比EPK等進口產品精度也高;
     
      3.穩定性:測量值的穩定性和使用穩定性優于進口產品;
     
      4.功能、數據、操作、顯示全部是中文;
     
      對材料表面保護、裝飾形成的覆蓋層,如涂層、鍍層、敷層、貼層、化學生成膜等,在有關國家和國際標準中稱為覆層(coating)。覆層厚度測量已成為加工工業、表面工程質量檢測的重要一環,是產品達到優等質量標準的手段。為使產品國際化,我國出口商品和涉外項目中,對覆層厚度有了明確的要求。
     
      覆層厚度的測量方法主要有:楔切法、光截法、電解法、厚度差測量法、稱重法、X射線熒光法、β射線反向散射法、電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些方法中前五種是有損檢測,測量手段繁瑣,速度慢,多適用于抽樣檢驗。
     
      X射線和β射線法是無接觸無損測量,但裝置復雜昂貴,測量范圍較小。因有放射源,使用者必須遵守射線防護規范。X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時采用。

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